詳細介紹
品牌 | Nikon/日本尼康 | 價格區間 | 面議 |
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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 醫療衛生,電子/電池,航空航天,制藥/生物制藥,汽車及零部件 |
XYZ量程 | 650x550x200 mm | 最小讀數值 | 0.01 nm |
激光AF重復精度1),3) | 2 0≤ 0.5 μm | 產品電源 | AC100 V-240 V |
尼康高精度影像測量系統(如NEXIV系列)是工業制造領域的高精度測量解決方案,集成光學、機械、軟件技術,實現非接觸式三維測量。以下從核心優勢、技術特性、工業應用案例三方面解析:
一、核心優勢
1.微米級測量精度
精度范圍:±(3 + L/200)μm(L為測量長度,單位mm),適應微小零件到大型工件的測量需求。
重復精度:±1μm,確保多批次測量結果一致性,提升質量管控可靠性。
2.復雜結構測量能力
激光自動對焦:TTL激光技術穿透透明材料(如LCD保護膜),檢測厚度低至0.1mm的樣品。
3D輪廓掃描:支持復雜曲面、深孔及階梯結構的測量,長工作距離(73.5mm)避免碰撞。
3.高效測量流程
多檔變焦:0.35×至120×倍率切換,覆蓋宏觀視野與微米級細節。
智能軟件:AutoMeasureEyes支持一鍵式編程、CAD導入及SPC分析,簡化操作。
二、技術特性
1.光學系統
高分辨率鏡頭:復消色差物鏡(數值孔徑0.11)提供清晰銳利的圖像。
環形照明:8段LED光源可調角度(18°-50°),優化不同材質反光效果。
2.機械結構
大行程載物臺:型號如VMA-6555支持650mm×550mm×200mm測量范圍。
防抖設計:減少高倍率下的振動干擾,確保測量穩定性。
3.軟件功能
景深擴展(EDF):多焦點圖像合成,提升全視野清晰度。
數據共享:支持測量報告導出,兼容多種格式(如Excel、PDF)。
三、工業應用案例
1.半導體制造
晶圓檢測:NEXIV VMF-K系列采用共焦光學系統,同步測量二維尺寸與高度,吞吐量提升1.5倍。
先進封裝:檢測基板、探針卡的微米級公差,支持半導體器件小型化趨勢。
2.汽車引擎生產
Roush Yates Engines案例:采用iNEXIV VMA-4540測量推桿、缸蓋墊片,檢查時間縮短50%,工時減少97%。
復雜零件測量:錐形零件、深孔結構的一站式檢測,替代傳統多設備組合方案。
3.電子元件質檢
PCB檢測:自動測量0.02mm孔洞直徑與位置,管控蝕刻工藝精度。
模具驗證:三維掃描注塑模具型腔,確保尺寸符合公差要求。
4.航空航天
渦輪葉片檢測:測量復雜曲面輪廓,驗證空氣動力學設計。
復合材料分析:無損檢測分層缺陷,支持材料研發與質量控制。
四、行業價值
質量提升:通過高精度測量減少不合格品率,如汽車電子元件的尺寸合規性管控。
效率優化:自動化測量流程縮短檢測周期,如半導體晶圓檢測吞吐量提升。
成本降低:減少人工操作依賴,降低因測量誤差導致的廢料成本。
尼康高精度影像測量系統該系統為工業4.0背景下的智能質檢提供了核心技術支持,適用于對精度、效率要求嚴苛的制造場景。
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